?粗糙度測量儀（又稱表面粗糙度儀、輪廓儀）是一種用于量化物體表面微觀幾何形狀誤差的高精度檢測工具，其核心功能是通過物理接觸或非接觸方式獲取表面輪廓信息，并計算國際標準定義的參數(shù)（如Ra、Rz等），以評估表面粗糙度對功能、性能及壽命的影響。下面，小編介紹一下使用粗糙度測量儀的測量原理：
接觸式測量（主流方法）
觸針法：儀器驅動金剛石觸針（尖端半徑通常為2μm、5μm或10μm）以恒定微力（幾毫牛）垂直接觸被測表面，沿表面勻速滑動時，微觀峰谷起伏使觸針產生垂直位移。位移通過杠桿或電感式傳感器轉換為電信號，經濾波處理后計算粗糙度參數(shù)。
優(yōu)點：精度高（Ra測量范圍0.001μm至10μm），直接對應國際標準參數(shù)，適用于大多數(shù)金屬與非金屬表面。
缺點：觸針可能劃傷軟材料（如塑料、鍍層），掃描速度較慢。
非接觸式測量（特定場景補充）
光學干涉法：利用光波干涉條紋變形分析表面形貌，分辨率達亞納米級，適用于超光滑表面（如光學元件）。
激光散射法：通過分析散射光角度分布評估粗糙度，速度快，但通常僅能提供單一綜合參數(shù)（如Ra近似值）。
聚焦探測法：基于物鏡聚焦特性，通過掃描焦點位置變化重建三維形貌，適用于陡峭側壁測量。
優(yōu)點：無損、速度快，適合軟、脆、熱敏感材料。
缺點：設備復雜昂貴，對表面光學特性敏感，測量陡峭邊緣或深溝槽受限。